芯片老化試驗箱
發(fā)布日期：2020/11/5 14:36:44 點擊次數(shù)：2734
產(chǎn)品特點
SATAI/II/III 的測試
ISATA,PCIE的測試片數(shù)定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
溫度范圍可選-70度~ + 180度的測試
具備異常斷電測試和老化測試
自動化溫控測試
全部采用軟件進(jìn)行智能化控制測試
可個性化定制測試軟件
快速升降溫控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化測試
網(wǎng)絡(luò)化控制，可以異地控制測試并看測試結(jié)果
可開發(fā)APP遠(yuǎn)程控制測試
性能技術(shù)指標(biāo)
|
型號
|
TYCT-300
|
|
溫度控制范圍
|
RT
+ 5℃~ + 150℃可選
|
|
融分布均勻度（空載）
|
±2℃
|
|
測試數(shù)量
|
300片可選
|
|
電源
|
220VAC ±10%, 50HZ
|
相關(guān)產(chǎn)品
